日本日置C測試儀 3504-40/50/60產(chǎn)品詳細(xì)信息
日本日置C測試儀 3504-40/50/60概述
封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
■ BIN功能
C測量根據(jù)測量值樶多分類為14個(gè)等級※1，易于進(jìn)行分揀等。 ※1 3506,3505樶多為13個(gè)等級。3504-40無BIN功能。
■ 比較器功能
第1參數(shù)(C)、第2參數(shù)(D)可各自設(shè)置上下限值。判定結(jié)果可進(jìn)行蜂鳴、LED顯示以及外部輸出，設(shè)定值始終顯示。
■ 存儲功能
測量數(shù)據(jù)可保存在主機(jī)。可通過GP-IB，RS-232C讀出。 3506-10 ………………………………..1,000個(gè) 3504-60, 3504-50, 3504-40 ……32,000個(gè)
■ 只需選擇的簡單操作&LED顯示
只需從面板標(biāo)記項(xiàng)目中進(jìn)行選擇，操作簡單。設(shè)定好的測量條件會點(diǎn)亮，能夠一目了然把握設(shè)定條件。
■ 觸發(fā)同步輸出功能
施加觸發(fā)后輸出測量信號，僅在測量時(shí)將信號施加到被測物上。因?yàn)槭窃诮佑|被測物時(shí)流過大電流，因此能夠減少接點(diǎn)的損耗。
■可存儲99※2組測量條件
樶多可保存99組測量條件，可迅速對應(yīng)在重復(fù)測量較多的產(chǎn)線上切換被測物的情況。可利用EXT I/O讀出任意測量條件。 ※2 3506-10樶多為70組。
■標(biāo)配接觸檢查功能
可檢測出測量過程中的接觸錯(cuò)誤。可另外管理有過接觸錯(cuò)誤的樣品，對提高成品率做出貢獻(xiàn)。
日本日置C測試儀 3504-40/50/60特點(diǎn)
★ 高速測量2ms
★ 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷
★ 對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
★ 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試
★ 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試
★ 查出全機(jī)測量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率
日本日置C測試儀 3504-40/50/60選型指南
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測量參數(shù)
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Cs,Cp（電容）,D（損耗系數(shù)tanδ）
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測量范圍
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C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000
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基本精度
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（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E為各系數(shù)
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測量頻率
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120Hz, 1kHz
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測量信號電平
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恒壓模式: 100mV (只用于3504-60)， 500 mV, 1 V 測量范圍: CV 100mV:～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz)
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輸出電阻
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5Ω（CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時(shí)）
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顯示
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發(fā)光二級管 （6位表示，滿量程計(jì)算器根據(jù)量程而定）
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測量時(shí)間
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典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※測量時(shí)間根據(jù)測量頻率、測量速度的不同而不同
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功能
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BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發(fā)同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口（標(biāo)配), GP-IB接口(3504-40除外)
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電源
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AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 樶大110VA
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體積及重量
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260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
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附件
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電源線×1，預(yù)備電源保險(xiǎn)絲×1，使用說明書×1
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